(1) 智能化校準：儀器具有多種校正模式(數(shù)學模型)方法，在定量分析中可自動應(yīng)用， 以取得*佳的分析結(jié)果；儀器具有ICAL（智能標準化校準）功能；同時在分析間歇中會自動監(jiān)測儀器溫度的變化，并校正因此帶來的信號的漂移。
(2) 全面快速的分析范圍：一次同時分析Mg~Th的41個元素只需2s，做各種鋁合金、 鎂合金的材料分選分析只需10s。
(3) 簡潔可靠的儀器結(jié)構(gòu)：在空氣中即可分析Al、Mg、Si、P等輕元素，不需要氦氣 吹掃或抽真空等復雜裝置.
(4) *佳的激發(fā)效果：采用復合濾光片(多金屬復合材料)設(shè)計, 簡化分析操作, 減少了X 光的損失，形成對于特定元素的*佳信號接受，同時保證對元素周期表中Mg–Th的所有元素均有*佳的激發(fā)效果。
(5) 可靠保護操作人員：儀器打開快門前，自動檢測是否有X射線泄漏，如未檢測到樣品，快門將于200毫秒的時間內(nèi)自動關(guān)閉，關(guān)閉快門的同時儀器自動切斷X射線，是真正意義上的安全的快速無損現(xiàn)場檢測設(shè)備。
(6) 更逼真的未知樣檢測：儀器可選擇配置FP快速定性, 半定量(定量)程序?？蓪θ?何未知的樣品進行‘解刨’分析。與其他X熒光儀器相比，F(xiàn)P更為接近(符合)實際，在此程序中采用了數(shù)千種標準樣品，實測結(jié)果并予以固化。
(7) 分析效率高：復合濾光片顯著減少更換濾波片造成的分析時間的浪費（縮短5 倍時間），減少操作人員接受輻照的時間，有助于減少X射線對操作人員的傷害, 同時大大提高分析多種元素的效率。
(8) 的檢測器，精度高并可檢低含量：第四代電制冷硅漂移檢測器（Peltier Sillicon Draft Detector，簡寫：PSDD），計數(shù)率高達250,000cps，可有效防止計數(shù)溢出造成的漏計數(shù)。Mn-Ka譜線線分辨率好于170eV，信號靈敏度是其他手持式儀器檢測器的10倍。
(7) 分析效率高：復合濾光片顯著減少更換濾波片造成的分析時間的浪費（縮短5 倍時間），減少操作人員接受輻照的時間，有助于減少X射線對操作人員的傷害, 同時大大提高分析多種元素的效率。
(8) 的檢測器，精度高并可檢低含量：第四代電制冷硅漂移檢測器（Peltier Sillicon Draft Detector，簡寫：PSDD），計數(shù)率高達250,000cps，可有效防止計數(shù)溢出造成的漏計數(shù)。Mn-Ka譜線線分辨率好于170eV，信號靈敏度是其他手持式儀器檢測器的10倍。
