儀器簡介：

日本AET微波(高頻)介電常數(shù)測試儀, 利用微波技術(shù)結(jié)合高Q腔以及3D電磁場模擬技術(shù)，采用德國CST公司的3D電磁類比軟件MW-StudioTM，測量材料的高頻介電常數(shù)，此方法保證了介電常數(shù)測量結(jié)果的精確性。

AET公司開發(fā)了誘電體共振腔，用于高介電常數(shù)，超低介電損耗的樣品。

 技術(shù)參數(shù)：

可測試頻率范圍： 20G以下

介電常數(shù)Epsilon：5-200，   準確度： ±1%，

介電損耗tangent delta：0.00001-0.001，  準確度：±5%

 主要特點：

高介電，低介電損耗材料量測。

 應(yīng)用領(lǐng)域： 

高速數(shù)字/微波電路用基底材料 ；濾波器和介電天線用低損耗電介質(zhì) ；化學制品；
薄膜與新材料；半導體材料；電子材料（包括CCL和PCB）
陶瓷材料；納米材料；光電材料等

  相關(guān)資料

 誘電體共振腔