950-1650nmNIR InGaAs光子探測(cè)器,2000個(gè)光子的靈敏動(dòng)態(tài),配備熱電冷卻器
Amplification熱電冷卻InGaAs探測(cè)器通過技術(shù)可以實(shí)現(xiàn)高品質(zhì)的內(nèi)部放大,具有高增益(>105)、快速響應(yīng)(<0.4ns上升時(shí)間)和極低的過噪聲因子(<1.05)。該產(chǎn)品采用TO-8封裝,配有熱電冷卻器,環(huán)境溫度為25°C時(shí),可以冷卻到-50°C。
近紅外銦鎵砷光子探測(cè)器的TEC性能:
TEC是一款三級(jí)冷卻器,采用高質(zhì)量的散裝BiTe材料制造,符合RoHS規(guī)范,并通過了Telordia GR-468 認(rèn)證。符合RoHS規(guī)范,并通過了Telcordia GR-468認(rèn)證。以下是理想條件下的 TEC 性能參數(shù):
近紅外銦鎵砷探測(cè)器TEC性能數(shù)據(jù)不包括TO封裝和散熱器布置,實(shí)際使用限制冷卻溫度在-50°C至-55°之間。上圖中所示的InGaAs探測(cè)器性能參數(shù)是在散熱和無負(fù)載條件下獲得的。在TO-8頭部的實(shí)際使用中,應(yīng)仔細(xì)考慮設(shè)計(jì)一個(gè)合適的散熱方案。為了獲得的可靠性,建議在非凝結(jié)環(huán)境下存儲(chǔ)和操作溫度低于85°C。為了盡量減少熱應(yīng)力,應(yīng)使用線性/比例溫度控制或類似的方法,而不是開關(guān)控制方法。
Amplification NIRDAPD TEC近紅外探測(cè)器是一款近紅外離散放大光子探測(cè)器,波長(zhǎng)覆蓋950nm至1650nm的近紅外波段。Amplification熱電制冷近紅外探測(cè)器DAPD TO8專為寬帶模擬檢測(cè)低光信號(hào)而設(shè)計(jì),近紅外銦鎵砷探測(cè)器對(duì)NIR模擬檢測(cè)器而言具有無二的信號(hào)脈沖靈敏度。NIR InGaAs光子探測(cè)器的靈敏度涵蓋了從單個(gè)光子到每脈沖約2000個(gè)光子的寬動(dòng)態(tài)范圍,并且其輸出信號(hào)與檢測(cè)到的光子數(shù)成正比。
Amplification近紅外TEC探測(cè)器DAPD-TO8有兩種不同的有效面積尺寸可供選擇:80µm和200µm。
Amplification近紅外探測(cè)器的主要特點(diǎn):
-近紅外光譜響應(yīng)從950到1650 nm
-快速響應(yīng):上升時(shí)間< 0.4ns
-高增益:在PDE下,G=~100k
-低噪聲因子:F<1.05
- TEC冷卻到-50oC
這表明熱電冷卻InGaAs探測(cè)器可以通過熱電制冷(TEC)技術(shù)冷卻到極低的溫度。在低溫下,Amplification近紅外離散放大光子探測(cè)器的性能可能會(huì)得到提高,因?yàn)闊嵩肼晻?huì)減少。Amplification近紅外探測(cè)器DAPD TO8的輸出信號(hào)相對(duì)于噪聲是非常干凈的,可以提高檢測(cè)的準(zhǔn)確性。
Amplification近紅外銦鎵砷探測(cè)器的主要應(yīng)用:
-激光雷達(dá)3D成像
-激光雷達(dá)和環(huán)境監(jiān)測(cè)
-光譜學(xué)和儀器
-量子通信
NIRDAPD TEC近紅外探測(cè)器的規(guī)格:(工作溫度為 -50°C 時(shí))
參數(shù) | DAPD TO8 series | 單位 | |
有效區(qū)域直徑 | 80 | 200 | μm |
頻譜響應(yīng)范圍(λ) | 950-1650 | nm | |
典型增益 (M) | 1x105 | - | |
過量噪聲系數(shù) | <1.05 | - | |
光子檢測(cè)效率@1550 納米 (PDE)1 | 10-20 | % | |
單電子響應(yīng)脈沖寬度 (FWHM) | 1.0 | 1.0 | Ns |
典型暗計(jì)數(shù)率 | 10 | 25 | Mcps |
工作偏置 | 50-80 | V |
(1) 近紅外TEC探測(cè)器的光子檢測(cè)效率包括串?dāng)_和后脈沖。