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Park NX-HDM|原子力顯微鏡|韓國(guó)帕克

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公司名稱(chēng)上海百賀儀器科技有限公司
品牌
型號(hào)Park NX-HD
所在地
廠(chǎng)商性質(zhì)經(jīng)銷(xiāo)商
更新時(shí)間2024/2/10 17:34:15
訪(fǎng)問(wèn)次數(shù)109

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上海百賀儀器科技有限公司由上海佰衡儀器科技有限公司組建而來(lái)。多年來(lái)佰衡儀器精心研發(fā)制造各種試驗(yàn)機(jī)、試驗(yàn)箱及非標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備，服務(wù)于全國(guó)各大企業(yè)院所，是一家技術(shù)型的生產(chǎn)廠(chǎng)家。為了更好服務(wù)客戶(hù)，滿(mǎn)足用戶(hù)一站式的采購(gòu)需求，上海百賀儀器順勢(shì)而生，并與國(guó)內(nèi)外多家優(yōu)秀儀器供應(yīng)商*保持良好穩(wěn)定的合作關(guān)系，能夠在產(chǎn)品價(jià)格、技術(shù)服務(wù)、儀器維修、配件供給、軟件升級(jí)等方面得到更多的支持，讓客戶(hù)獲取更多的增值服務(wù)。
上海百賀儀器科技有限公司秉承‘佰衡儀器’的經(jīng)營(yíng)理念，一直致力于提升中國(guó)實(shí)驗(yàn)室檢測(cè)水平，作為專(zhuān)業(yè)化的儀器公司，我們能為您提供更全面、更優(yōu)質(zhì)、更專(zhuān)業(yè)的實(shí)驗(yàn)室解決方案。百賀儀器的產(chǎn)品及服務(wù)涉及金屬、橡膠、塑料、石油、建筑材料、汽車(chē)、電子、電工、家電、醫(yī)療、包裝印刷等諸多領(lǐng)域，享譽(yù)八方。

百賀儀器堅(jiān)持“客戶(hù)*，服務(wù)*”的服務(wù)理念，崇尚“誠(chéng)信、奉獻(xiàn)、共贏(yíng)”的企業(yè)價(jià)值觀(guān)，勵(lì)精圖治，開(kāi)拓進(jìn)取。公司由一支充滿(mǎn)活力的高素質(zhì)開(kāi)拓型團(tuán)隊(duì)組成，技術(shù)過(guò)硬，經(jīng)驗(yàn)豐富，可以滿(mǎn)足不同客戶(hù)的需求，為客戶(hù)提供周到、熱情、滿(mǎn)意的服務(wù)。不論是售前還是售后服務(wù)，百賀儀器都力求嚴(yán)謹(jǐn)、及時(shí)、全面；換位思考，仔細(xì)傾聽(tīng)，做客戶(hù)忠實(shí)的顧問(wèn)式伙伴。

百賀儀器的承諾：*的品質(zhì)，專(zhuān)業(yè)的服務(wù)。

百賀儀器的目標(biāo)：您Z貼心的實(shí)驗(yàn)儀器供應(yīng)商。

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對(duì)于媒介和基體領(lǐng)域的工程師而言，識(shí)別納米級(jí)缺陷是一個(gè)非常耗時(shí)的工作。Park NX-HDM原子力顯微鏡系統(tǒng)可借助數(shù)量級(jí)實(shí)現(xiàn)自動(dòng)缺陷識(shí)別、掃描和分析，從而加快缺陷的檢查過(guò)程。Park NX-HDM可與眾多的光學(xué)檢查工具直接進(jìn)行連接，這就意味著自動(dòng)缺點(diǎn)檢查通量會(huì)大幅提高。此外，Park NX-HDM擁有精確的次埃米表面粗糙度測(cè)量功能。憑借著業(yè)內(nèi)低的本底噪聲的True Non-Contact™技術(shù)，Pa......

Park NX-HDM|原子力顯微鏡|韓國(guó)帕克產(chǎn)品信息

Simply the best AFM for automatic defect review and surface roughness measurement
對(duì)于媒介和基體領(lǐng)域的工程師而言，識(shí)別納米級(jí)缺陷是一個(gè)非常耗時(shí)的工作。Park NX-HDM原子力顯微鏡系統(tǒng)可借助數(shù)量級(jí)實(shí)現(xiàn)自動(dòng)缺陷識(shí)別、掃描和分析，從而加快缺陷的檢查過(guò)程。Park NX-HDM可與眾多的光學(xué)檢查工具直接進(jìn)行連接，這就意味著自動(dòng)缺點(diǎn)檢查通量會(huì)大幅提高。此外，Park NX-HDM擁有精確的次埃米表面粗糙度測(cè)量功能。憑借著業(yè)內(nèi)的本底噪聲和的True Non-Contact™技術(shù)，Park NX-HDM毫無(wú)疑問(wèn)是市面上表面粗糙度測(cè)量確的原子力顯微鏡。

Higher Throughput, Automatic Defect Review
對(duì)于媒介和基體領(lǐng)域的工程師而言，識(shí)別納米級(jí)缺陷是一個(gè)非常耗時(shí)的工作。Park NX-HDM原子力顯微鏡系統(tǒng)可借助數(shù)量級(jí)實(shí)現(xiàn)自動(dòng)缺陷識(shí)別、掃描和分析，從而加快缺陷的檢查過(guò)程。Park NX-HDM可與眾多的光學(xué)檢查工具直接進(jìn)行連接，這就意味著自動(dòng)缺點(diǎn)檢查通量會(huì)大幅提高。

Sub-Angstrom, Surface Roughness Measurement
業(yè)內(nèi)對(duì)于超平媒介和基體的要求越來(lái)越高，所以需要滿(mǎn)足設(shè)備體積不斷減小的需求。此外，Park NX-HDM擁有精確的次埃米表面粗糙度測(cè)量功能。憑借著業(yè)內(nèi)的本底噪聲和的True Non-Contact™技術(shù)，Park NX-HDM毫無(wú)疑問(wèn)是市面上表面粗糙度測(cè)量確的原子力顯微鏡。

Automatic Defect Review for Media and Substrates
Higher Throughput, Automatic Defect Review
NX-HDM的自動(dòng)缺陷檢查功能(Park ADR)可加速和改良媒介和基體缺陷的識(shí)別、掃描和分析流程。借助光學(xué)檢查工具所提供的缺陷位置圖，Park ADR可自動(dòng)定位這些位置并進(jìn)行成像（分兩步）：
(1) 縮小掃描成像，以準(zhǔn)確定位缺陷。
(2) 放大掃描成像，以獲取缺陷的細(xì)節(jié)。在真實(shí)缺陷測(cè)試中，我們可以看到相比于傳統(tǒng)的方法，該自動(dòng)功能可將缺陷檢查通量提高10倍。

Automated Search Scan & Zoom-in Scan
經(jīng)過(guò)優(yōu)化的掃描參數(shù)讓兩步式掃描更為快速：
(1) 快速的低分辨率搜尋式掃描，來(lái)準(zhǔn)確定位缺陷。
(2) 高分辨率的放大掃描，來(lái)獲取缺陷的細(xì)節(jié)?？烧{(diào)節(jié)的掃描尺寸和掃描速度參數(shù)能滿(mǎn)足用戶(hù)的所有需求。

Automatic Transfer and Alignment of Defect Maps to AFM
借助的映射算法，從自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)(APO)工具中獲取的缺陷坐標(biāo)圖可準(zhǔn)確地傳入和映射至Park NX-HDM。該技術(shù)讓全自動(dòng)高通量缺陷成像成為可能。

Map of Defect Coordinates from an Optical Inspection Tool

Accurate Sub-Angstrom Surface Roughness Measurement
Sub-Angstrom, Surface Roughness Measurement
業(yè)內(nèi)對(duì)于超平媒介和基體的要求越來(lái)越高，所以需要滿(mǎn)足設(shè)備體積不斷減小的需求。此外，Park NX-HDM擁有精確的次埃米表面粗糙度測(cè)量功能。憑借著業(yè)內(nèi)的本底噪聲和的True Non-Contact™技術(shù)，Park NX-HDM毫無(wú)疑問(wèn)是市面上表面粗糙度測(cè)量確的原子力顯微鏡。

Accurate AFM Scan by True Non-Contact™ Mode
True Non-Contact™ Mode

探針磨損更低=高分辨率掃描更長(zhǎng)久

無(wú)損式探針-樣品接觸=樣品變化程度最小

避免參數(shù)依賴(lài)

Tapping Imaging

探針磨損更快=掃描圖像模糊

破壞性探針-樣品接觸=樣品受損變化

高參數(shù)依賴(lài)性

Accurate AFM Topography with Low Noise Z Detector
True Sample Topography™ without piezo creep error
形貌使用了低噪聲Z軸探測(cè)器信號(hào)
寬帶寬下0.02 nm的低Z軸探測(cè)器噪聲
Park NX AFM

no-creep-effect

前沿和后沿?zé)o過(guò)沖
只需出廠(chǎng)前進(jìn)行一次校準(zhǔn)

Conventional AFM

creep-effect

Automatic Measurement Control
自動(dòng)化軟件讓NX-HDM的操作不費(fèi)吹灰之力。測(cè)量程序針對(duì)懸臂調(diào)諧、掃描速率、增益和點(diǎn)參數(shù)進(jìn)行優(yōu)化，為您提供多位置分析。自動(dòng)化軟件會(huì)按照測(cè)量文件中預(yù)設(shè)的程序進(jìn)行樣品測(cè)量。Park的用戶(hù)友好型軟件界面讓用戶(hù)可靈活執(zhí)行全系統(tǒng)功能。創(chuàng)建新測(cè)量文件只需要10分鐘左右的時(shí)間，而修改現(xiàn)有的測(cè)量文件則需要不到5分鐘的時(shí)間。

Park NX-HDM具有：
自動(dòng)、半自動(dòng)和手動(dòng)模式
各自動(dòng)程序的可編輯測(cè)量方法
測(cè)量過(guò)程實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)
自動(dòng)分析所獲取的測(cè)量數(shù)據(jù)

Automatic-Measurement-Control

Ionization System
離子化系統(tǒng)可有效地消除靜電電荷。由于系統(tǒng)隨時(shí)可生產(chǎn)和位置正離子和負(fù)離子之間的理想平衡，便可以穩(wěn)定地離子化帶電物體，且不會(huì)污染周邊區(qū)域。它也可以消除樣品處理過(guò)程中意外生成的靜電電荷。

NX-HDM Ionization-System