上海儀電物光WKL-702顆粒圖像分析儀國產(chǎn)
將傳統(tǒng)的顯微測量方法與現(xiàn)代的圖像技術相結合，是一種采用圖像法進行顆粒形貌分析和顆粒測量的顆粒分析儀器，由光學顯微鏡、數(shù)字CCD攝像機和顆粒圖像處理分析軟件組成。該系統(tǒng)通過專用的數(shù)字攝像機將圖像傳輸給電腦，通過專用的顆粒圖像處理分析軟件對圖像進行分析處理，具有直觀、形像、準確和測量范圍寬等特點。
1、圖像多種處理方法：影像增強、圖像疊加、局部提取、定倍放大、對比度、亮度調(diào)節(jié)、顆粒定位、自動分割等幾十種功能。
2、具有圓度、曲線、周長、面積、直徑等幾十種幾何參數(shù)的基本測量。
3、可直接按顆粒粒徑的粒徑面積、形狀等多類參數(shù)，以線性或非線性統(tǒng)計方式繪出分布圖。
儀器型號 | WKL-702 |
測量范圍 | 0.1～3000（微米） |
總放大倍數(shù) | 8000倍 |
分辨率 | 0.1微米/像素 |
重復性 | 誤差≤±1％ |
自動分割速度 | ≤1秒 |
數(shù)字攝像機(CCD) | 500萬像素 |
數(shù)據(jù)儲存 | 電腦另配 |
通信接口 | USB |
操作系統(tǒng) | Windows 98/XP/7/8/10系統(tǒng)均可 |
電源 | AC220V ±10％ 200W |
儀器尺寸 | 270mmX410mmX440mm |
儀器凈重 | 15kg
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上海儀電物光WKL-702顆粒圖像分析儀國產(chǎn)
