概述
- 飛秒上轉(zhuǎn)換與 TCSPC 測量集成到緊湊的機(jī)身內(nèi)
- 操作簡單的日常維護(hù)
- 可作為 HARPIA-TA 附加組件工作或獨(dú)立單元工作
- 熒光上轉(zhuǎn)換模式和 TCSPC 模式之間的輕松轉(zhuǎn)換
- 可兼容 PHAROS 激光系統(tǒng),支持 50 – 1000 kHz 工作重頻
- 選配檢測熒光上轉(zhuǎn)換的模擬 PMT 探測器
- 光譜掃描和上轉(zhuǎn)換晶體 / 棱鏡的自動校正
- 從飛秒到納秒量級的熒光動力學(xué)測量
- 控制以下泵浦光參數(shù):
– 偏振(使用 Becker 偏振補(bǔ)償器)
– 強(qiáng)度 (使用手動或自動的連續(xù)可變中性密度濾光片)
– 門控延遲(使用光延遲線) - 使用單色儀實(shí)現(xiàn)光譜分辨熒光檢測
- 與 HARPIA-TA 系統(tǒng)配合使用時(shí),一個(gè)單色儀既可用于檢測時(shí)間分辨吸收,又可測量熒光,無需更換探頭。也可以選配其他的單色儀,比如可獲得更高 TCSPC 時(shí)間分辨率的雙重減色單色儀。
HARPIA-TF 是集合了熒光上轉(zhuǎn)換和 TCSPC 技術(shù)的時(shí)間分辨熒光測量模塊。使用熒光上轉(zhuǎn)換模式時(shí),樣品的信號被混合在一個(gè)具有門控飛秒脈沖的非線性晶體中,以獲得高的時(shí)間分辨率,該分辨率受門控脈沖的脈寬限制在 250 fs內(nèi)。對于熒光衰減時(shí)間超過 150 ps 的,儀器可采用 TCSPC 模式(時(shí)間相關(guān)的單光子計(jì)數(shù))模式,測量 到5 µs 時(shí)間范圍內(nèi)的運(yùn)動軌跡。HARPIA-TF 模塊支持 Becker&Hickl TCSPC 設(shè)備和探測器。
將這兩種時(shí)間分辨熒光技術(shù)結(jié)合起來,可以測量飛秒到 ms 毫秒級別的的頻率分辨熒光衰減曲線。使用高重頻的 PHAROS / CARBIDE 激光器,使得單脈沖能量可低至幾個(gè) nJ,從而激發(fā)樣品并且對瞬態(tài)吸收的動力學(xué)過程進(jìn)行精準(zhǔn)測量。
特性
- 飛秒上轉(zhuǎn)換與 TCSPC 測量集成到緊湊的機(jī)身內(nèi)
- 操作簡單的日常維護(hù)
- 可作為 HARPIA-TA 附加組件工作或獨(dú)立單元工作
- 熒光上轉(zhuǎn)換模式和 TCSPC 模式之間的輕松轉(zhuǎn)換
- 可兼容 PHAROS 激光系統(tǒng),支持 50 – 1000 kHz 工作重頻
- 選配檢測熒光上轉(zhuǎn)換的模擬 PMT 探測器
輸出規(guī)格