X射線鍍層測厚儀Thick800A是天瑞集多年的經(jīng)驗(yàn)，專門研發(fā)用于鍍層行業(yè)的款儀器，可自動(dòng)軟件操作，可多點(diǎn)測試，由軟件控制儀器的測試點(diǎn)，以及移動(dòng)平臺。是款功能強(qiáng)大的儀器，配上專門為其開發(fā)的軟件，在鍍層行業(yè)中可謂大展身手。
X射線鍍層測厚儀Thick800A性能特點(diǎn)
滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求；
φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測試點(diǎn)的需求；
高精度移動(dòng)平臺可定位測試點(diǎn)，重復(fù)定位精度小于0.005mm；
采用高度定位激光，可自動(dòng)定位測試高度；
定位激光確定定位光斑，確保測試點(diǎn)與光斑對齊；
鼠標(biāo)可控制移動(dòng)平臺，鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測點(diǎn)；
高分辨率探頭使分析結(jié)果更加；
良好的射線屏蔽作用；
測試口高度敏感性傳感器保護(hù)。
技術(shù)指標(biāo)
型號：Thick 800A
元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）。
同時(shí)可以分析30種以上元素，五層鍍層。
分析含量般為ppm到99.9%。
鍍層厚度般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）。
任意多個(gè)可選擇的分析和識別模型。
相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型。
多變量非線性回收程序。
度適應(yīng)范圍為15℃至30℃。
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。
外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm。
樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm。
重量：90kg。
標(biāo)準(zhǔn)配置
開放式樣品腔。
精密二維移動(dòng)樣品平臺，探測器和X光管上下可動(dòng)，實(shí)現(xiàn)三維移動(dòng)。
雙激光定位裝置。
鉛玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探測器。
信號檢測電子電路。
高低壓電源。
X光管。
高度傳感器。
保護(hù)傳感器。
計(jì)算機(jī)及噴墨打印機(jī)。
產(chǎn)品特點(diǎn)
•應(yīng)用于各種鍍層厚度的分析；
•穩(wěn)定高壓電源和X光管，測試結(jié)果穩(wěn)定；
•系統(tǒng)、的分析軟件和分析方法；
•多元的線性回歸法，消除和降低元素間的吸收、增強(qiáng)效應(yīng)；
•多種準(zhǔn)直器和濾光片的自動(dòng)切換；
•軟硬結(jié)合的防輻射設(shè)計(jì)；
•操作簡便，鍵式操作設(shè)計(jì)；
•快速無損分析樣品；
•超溫保護(hù)，超載保護(hù)。
技術(shù)規(guī)格
•探測器：美Amptek Si-PIN探測器，高速脈沖分析系統(tǒng)
•高壓電源：美Spellman 50w（50kv/MA）
•X射線管：50w側(cè)窗鈹窗型X射線管
•能量分辨率：149ev
•測量時(shí)間：60-300S
•測量含量范圍：2ppm-99.9%
•交流220v供電設(shè)備：1KVA交流凈化穩(wěn)壓電源
•工作溫度：10-30°C
•測量條件：大氣環(huán)境
應(yīng)用領(lǐng)域
黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測；
金屬鍍層的厚度測量, 電鍍液和鍍層含量的測定；
主要用于貴金屬加工和首飾加工行業(yè)；銀行，首飾銷售和檢測機(jī)構(gòu)；電鍍行業(yè)。
