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德國EPK MiniTest1100 涂層測厚儀

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公司名稱深圳市歐野電子有限公司
品牌
型號MiniTest11
所在地深圳市
廠商性質(zhì)代理商
更新時間2018/5/16 14:55:55
訪問次數(shù)456

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德國EPK MiniTest1100 涂層測厚儀

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深圳市歐野電子有限公司自成立以來，致力于向客戶提供電力電工測試測量儀器，環(huán)境工程測試測量儀器，工業(yè)設(shè)備診斷檢測等儀器。所提供的儀器廣泛應(yīng)用于發(fā)電、輸電、供電、電信、冶金、鐵路、機(jī)械制造、科研院校、石油化工、建筑、環(huán)保、凈化工程等行業(yè)和部門。公司有著很強(qiáng)的技術(shù)支持、售后維修，十分注重客戶對儀器儀表的需求，努力為客戶提供Z適合的產(chǎn)品。是深圳乃至珠三角地區(qū)*的儀器儀表供應(yīng)商。

公司主要經(jīng)銷的產(chǎn)品為：紅外測溫儀、測厚儀、測振儀、測距儀、噪音計、照度計、屏幕亮度計、PH計、風(fēng)速儀、水份儀、溫濕度計、轉(zhuǎn)速表、萬用表、鉗形表、兆歐表、接地電阻測試儀、漏電開關(guān)測試儀、示波器、電能質(zhì)量分析儀、多功能測試儀、安規(guī)測試儀等儀器。

經(jīng)過我們的不懈努力，公司成為日本共立(KYORITSU)、德國德圖(TESTO)、美國福祿克(FLUKE)、美國雷泰(RAYTEK)、德國歐普士(OPTRIS)、日本日置(HIOKI)、日本萬用(MULTI)、日本三和(SANWA)、中國臺灣泰仕TES、中國臺灣路昌(Lutron)、美國泰克(TEKtronix) 中國臺灣艾德克斯(ITECH)，中國臺灣固緯(GWINSTEK)、香港?，?SMART)、香港CEM等眾多國內(nèi)外*廠商的合作伙伴。

公司本著“誠信、務(wù)實、創(chuàng)新”的經(jīng)營理念，對內(nèi)致力于各項改善，不斷追求公司服務(wù)質(zhì)量的提高，對外為廣大客戶提供性能穩(wěn)定，價格合理的產(chǎn)品。竭誠歡迎社會各界朋友的蒞臨指導(dǎo)和電函垂詢！歐野電子將為您提供Z適合您的產(chǎn)品和售后服務(wù)，我們愿與您攜手共創(chuàng)美好未來!

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壓差儀，測厚儀，探傷儀，色差儀，環(huán)境檢測儀，電力電工儀器

產(chǎn)品簡介在線詢價

MiniTest涂層測厚儀可選探頭參數(shù)(探頭圖示)
所有探頭都可配合任一主機(jī)使用。在選擇Z適用的探頭時需要考慮覆層厚度，基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
F型探頭：測量鋼鐵基體上的非磁性覆層
N型探頭：測量有色金屬基體上的絕緣覆層
FN兩用探頭：同時具備F型和N性探頭的功能

德國EPK MiniTest1100 涂層測厚儀產(chǎn)品信息

德國EPK MiniTest1100 涂層測厚儀

MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機(jī)，各自具有不同的數(shù)據(jù)處理功能；
所有型號均可配所有探頭；
可通過RS232接口連接MiniPrint打印機(jī)和計算機(jī)；
可使用一片或二片標(biāo)準(zhǔn)箔校準(zhǔn)。

MiniTest涂層測厚儀功能

型號	1100	2100	3100	4100
MINITEST 存儲的數(shù)據(jù)量
應(yīng)用行數(shù)（根據(jù)不同探頭或測試條件而記憶的校準(zhǔn)基礎(chǔ)數(shù)據(jù)數(shù)）	1	1	10	99
每個應(yīng)用行下的組（BATCH）數(shù)（對組內(nèi)數(shù)據(jù)自動統(tǒng)計，并可設(shè)寬容度極限值）	-	1	10	99
可用各自的日期和時間標(biāo)識特性的組數(shù)	-	1	500	500
數(shù)據(jù)總量	1	10000	10000	10000
MINITEST統(tǒng)計計算功能
讀數(shù)的六種統(tǒng)計值x,s,n,max,min,kvar	-	√	√	√
讀數(shù)的八種統(tǒng)計值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk	-	-	√	√
組統(tǒng)計值六種x,s,n,max,min,kvar	-	-	√	√
組統(tǒng)計值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk	-	-	√	√
存儲顯示每一個應(yīng)用行下的所有組內(nèi)數(shù)據(jù)	-	-	-	√
分組打印以上顯示和存儲的數(shù)據(jù)和統(tǒng)計值	-	-	√	√
顯示并打印測量值、打印的日期和時間	-	√	√	√
其他功能
透過涂層進(jìn)行校準(zhǔn)（CTC）	-	√	√	√
在粗糙表面上作平均零校準(zhǔn)	√	√	√	√
利用計算機(jī)進(jìn)行基礎(chǔ)校準(zhǔn)	√	√	√	√
補(bǔ)償一個常數(shù)（Offset）	-	-	√	√
外設(shè)的讀值傳輸存儲功能	-	√	√	√
保護(hù)并鎖定校準(zhǔn)設(shè)置	√	√	√	√
更換電池是存儲數(shù)值	√	√	√	√
設(shè)置極限值	-	-	√	√
公英制轉(zhuǎn)換	√	√	√	√
連續(xù)測量模式快速測量，通過模擬柱識別zui大zui小值	-	-	√	√
連續(xù)測量模式中測量穩(wěn)定后顯示讀數(shù)	-	-	√	√
浮點和定點方式數(shù)據(jù)傳送	√	√	√	√
組內(nèi)單值延遲顯示	-	√	√	√
連續(xù)測量模式中顯示zui小值	√	√	√	√

MiniTest涂層測厚儀可選探頭參數(shù)（探頭圖示）
所有探頭都可配合任一主機(jī)使用。在選擇zui適用的探頭時需要考慮覆層厚度，基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
F型探頭：測量鋼鐵基體上的非磁性覆層
N型探頭：測量有色金屬基體上的絕緣覆層
FN兩用探頭：同時具備F型和N性探頭的功能

探頭		量程	低端分辨率	誤差	zui小曲率半徑（凸/凹）	zui小測量區(qū)域直徑	zui小基體厚度	探頭尺寸
磁感應(yīng) 法	F05	0-500μm	0.1μm	±（1%±0.7μm）	1/5mm	3mm	0.2mm	φ15x62mm
	F1.6	0-1600μm	0.1μm	±（1%±1μm）	1.5/10mm	5mm	0.5mm	φ15x62mm
	F1.6/90	0-1600μm	0.1μm	±（1%±1μm）	平面/6mm	5mm	0.5mm	φ8x8x170mm
	F3	0-3000μm	0.2μm	±（1%±1μm）	1.5/10mm	5mm	0.5mm	φ15x62mm
	F10	0-10mm	5μm	±（1%±10μm）	5/16mm	20mm	1mm	φ25x46mm
	F20	0-20mm	10μm	±（1%±10μm）	10/30mm	40mm	2mm	φ40x66mm
	F50	0-50mm	10μm	±（3%±50μm）	50/200mm	300mm	2mm	φ45x70mm
兩用	FN1.6	0-1600μm	0.1μm	±（1%±1μm）	1.5/10mm	5mm	F0.5mm N50μm	φ15x62mm
	FN1.6P	0-1600μm	0.1μm	±（1%±1μm）	平面	30mm	F0.5mm N50μm	φ21x89mm
	FN2	0-2000μm	0.2μm	±（1%±1μm）	1.5/10mm	5mm	F0.5mm N50μm	φ15x62mm
電渦流法	N02	0-200μm	0.1μm	±（1%±0.5μm）	1/10mm	2mm	50μm	φ16x70mm
	N.08Cr	0-80μm	0.1μm	±（1%±1μm）	2.5mm	2mm	100μm	φ15x62mm
	N1.6	0-1600μm	0.1μm	±（1%±1μm）	1.5/10mm	2mm	50μm	φ15x62mm
	N1.6/90	0-1600μm	0.1μm	±（1%±1μm）	平面/10mm	5mm	50μm	φ13x13x170mm
	N10	0-10mm	10μm	±（1%±25μm）	25/100mm	50mm	50μm	φ60x50mm
	N20	0-20mm	10μm	±（1%±50μm）	25/100mm	70mm	50μm	φ65x75mm
	N100	0-100mm	100μm	±（1%±0.3mm）	100mm/平面	200mm	50μm	φ126x155mm
	CN02	10-200μm	0.2μm	±（1%±1μm）	平面	7mm	無限制	φ17x80mm

注：	F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭，用于管內(nèi)測量。 N.08Cr適合銅上鉻，F(xiàn)N2也適合銅上鉻。 CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。

MiniTest涂層測厚儀探頭圖示

	FN1.6 0～1600μm,φ5mm 兩用測頭，可測銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬基體上的絕緣覆層量程低端分辨率很高（0.1μm）
	FN1.6P 0～1600μm,φ30mm 兩用測頭，特別適合測粉末狀的覆層厚度
	F05 0～500μm,φ3mm 磁性測頭，適于測量細(xì)小鋼鐵物體的薄覆層，如金屬鍍層，氧化層等量程低端分辨宰很高（0.1μm）
	F1.6 0～1600μm,φ5mm 磁性測頭量程低端分辨率很高（0.1μm）
	F3 0～3000μm,φ5mm 磁性測頭可用于較厚的覆層
	F1.6/90 0～1600μm,φ5mm 90度磁性測頭尤其適合于在管內(nèi)壁測量量程低端分辨率很高（0.1μm）
	F10 0～10mm,φ20mm 適合測量鋼結(jié)構(gòu)（如水箱、管道等）上的防腐覆層，如玻璃、塑膠、混凝土等
	F20 0～20mm,φ40mm 適合測量鋼結(jié)構(gòu)（如水箱、管道等）上的防腐覆層，如玻璃、塑膠、混凝土等
	F50 0～50mm,φ300mm 適合測量鋼結(jié)構(gòu)（如水箱、管道等）上的防腐覆層的隔音覆層
	N02 0～200μm,φ2mm 非磁性測頭，尤其適合測量有色金屬基體上的氧化層等很薄的絕緣覆層量程低端分辨率很高（0.1μm）
	N0.8Cr 0～80μm,φ2mm 適用于測量銅、鋁、黃銅上的極薄鍍鉻層
	N1.6 0～1600μm,φ2mm 非磁性測頭，適于測量有色金屬基體上的較薄的絕緣覆層量程低端分辨率很高（0.1μm）
	N1.6/90 0～1600μm,φ5mm 磁性測頭，適于測量較薄的絕緣覆層尤其適合在管內(nèi)壁測量量程低端分辨率很高（0.1μm）
	N10 0～10mm,φ50mm 非磁性測頭，適于測量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等
	N20 0～20mm,φ70mm 非磁性測頭，適于測量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等
	N100 0～100mm,200mm 非磁性測頭，適于測量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等
	CN02 10～200μm,φ7mm 用于測量絕緣材料上的有色金屬覆層，如覆銅板