KY-99C靜態(tài)顯微顆粒圖像儀
產品簡介：
KY-99C是凱云儀推出的第三代靜態(tài)顆粒圖像分析儀通過新一代高清數字攝像系統(tǒng)，可將顆粒形貌直觀的反映在電腦屏幕上。使測試人員首先對顆粒的總體狀態(tài)有一個直觀了解，進而通過自主開發(fā)的軟件系統(tǒng)，獲得常規(guī)粒度分布數據的同時還可以得到球形度、長徑比等形貌表征數據。這是其他種類的顆粒測試儀器所達不到的，對于某些行業(yè)具有重要意義。
KY-99C既可以獨立完成簡單的粒度測試任務，也可以作為激光粒度儀的輔助和補充，對樣品進行更全面更多樣的分析，是顆粒測試工作中*的得力助手。
適用范圍：
KY-99C靜態(tài)顆粒圖像儀適用于水泥、陶瓷、藥品、涂料、染料、顏料、填料、化工產品、催化劑、煤粉、泥砂、粉塵、面粉、食品、添加劑、農藥、炸藥、石墨、感光材料、燃料、金屬與非金屬粉末、碳酸鈣、高嶺土及其他粉體行業(yè)。
產品優(yōu)勢：
“KY-99C顆粒圖像儀”作為專業(yè)的顆粒圖像分析儀器，是專為顆?；蝾w粒相關行業(yè)設計開發(fā)的，它的突出優(yōu)勢主要體現在以下方面：
專業(yè)性強：與其他廠家生產的各種類型圖像分析儀器相比，凱云儀專業(yè)的顆粒測試研究經驗與圖像學理論*結合，是“KY-99C顆粒圖像儀”專業(yè)性的保證。本產品不但可對樣品的顆粒單體的進行科學描述，還可以將顆粒的分布情況使用數據、圖表等方式進行直觀表現。能夠獨立或輔助激光粒度儀等設備更好的進行顆粒測試工作。
數據直觀、易懂，分析結果一目了然：常見的顆粒測試儀器有激光粒度儀、沉降粒度儀等，但在進行顆粒檢測的同時還可觀測樣品形貌的直觀性優(yōu)勢是其他所有顆粒測試設備所不具備的，這能夠使用戶更全面的了解顆粒的形貌、狀態(tài)、變化過程等信息。并且，對照直觀的樣品圖片，可以幫助用戶更好的理解報告中的數據含義。
應用廣泛，價格低廉：“KY-99C顆粒圖像儀”既可以作為一種觀測儀器，替代傳統(tǒng)顯微鏡進行各種樣品的觀測工作，又可以計算樣品的各項數據，操作直觀簡便，應用范圍十分廣泛。且產品價格低廉，適用于不同行業(yè)不同規(guī)模的企業(yè)用戶。
KY-99C顯微顆粒圖像分析儀技術參數及詳細配置
| 硬件參數 | ||
顯 微 系 統(tǒng) | 物鏡 | 4X、10X、40X、60X、100X（油）長距消色差（平場）物鏡組 |
目鏡 | 1X、10X、16X 大視野攝像目鏡 | |
載物臺 | 手動三維機械式載物臺，尺寸：185mm×140mm，移動范圍：50mm×75mm，粗微同軸調焦，微動格值:2μm,帶鎖緊和限位裝置 | |
光源 | 底部透射光源，6V 20W鹵素燈,亮度可調?？蛇x頂部金相落射式光源（帶起偏振器） | |
光源 | 底部透射光源，6V 20W鹵素燈,亮度可調?？蛇x頂部金相落射式光源（帶起偏振器） | |||
總放大倍數 | 4倍——1600倍 | |||
攝 像 系 統(tǒng) | zui高分辨率 | 2048×1536 | ||
像素尺寸 | 3.2μm×3.2μm | |||
成像元件 | 1/1.8英寸 progress scan CMOS | |||
幀率 | 6fps@2048×1536 / 10fps@1600×1200 / 15fps@1280×1024 / 30fps@640×480 | |||
zui高清晰度 | 900線 | |||
信噪比 | 小于42dB | |||
敏感度 | 1.0V@550nm/lux/S | |||
輸出方式 | USB2.0 | |||
實際觀測范圍 | 1微米——6000微米 | |||
軟件參數 | ||||
軟 件 功 能 | 靜態(tài)采集 | 將樣品形貌拍攝為高清晰BMP圖片 | ||
圖片處理 | 使用多種畫圖工具對圖片進行比較簡單的處理 | |||
圖像拼接 | 將多幅圖片進行無縫拼接,在顆粒測試中能夠獲得更多的顆粒數量以提高測試的代表性 | |||
顆粒的自動處理工具集 | 自動消除顆粒粘連、自動消除雜點、自動消除邊界不完整顆粒、自動*顆粒的空心區(qū)域、自動平滑顆粒邊緣等12項自動處理工具。 | |||
比例尺標定 | 通過國家標準測微尺標定后，每次測試只須選擇與物鏡相對應的比例尺數值即可直接得到顆粒的實際大小數值。 | |||
單個顆粒數據 | 可在圖片上直接對單個顆粒進行截面積、體積、長徑比等10多項參數的分析 | |||
任務管理機制 | 嚴格的任務管理機制，使用戶能夠將所有測試數據井井有條的管理起來。 | |||
報告輸出 | 將測試結果輸出為報告，并可以自定義報告樣式。 | |||
整體分布特征參數 | D10、D50（中位徑）、D90、D100等顆粒分布的特征參數 | |||
報 告 參 數 | 整體頻率分布累計分布 | 顆粒按數量、體積、面積等分布的頻率分布與累計分布的數據表、曲線圖、柱狀圖等。 | ||
統(tǒng)計平均徑 | Xnl、Xns、Xnv、Xls、Xlv、Xsv等常用的統(tǒng)計平均徑 | |||
形狀參數 | 長徑比、龐大率、球型度、表面率、比表面積、外接矩形參數等表征顆粒形狀的10多項常用數據 | |||
個數統(tǒng)計 | 直接得到所觀測的顆粒數量 | |||
樣品縮略圖 | 可以將樣品縮略圖顯示到報告中 | |||
表頭輸入 | 可以將樣品名稱、測試單位、分散介質等多項信息輸入到報告表頭中 | |||
自定義LOGO | 用戶可以自定義LOGO和報告名稱，使輸出的報告顯示自己公司的信息 | |||
