所屬標(biāo)準(zhǔn): | ISO2400-1972E |
材 質(zhì): | 20#鋼,不銹鋼或鋁合金 |
IIW試塊(V-1試塊)也稱荷蘭試塊。是由焊接學(xué)會(IIW)通過,標(biāo)準(zhǔn)化組織(ISO)*使用的標(biāo)準(zhǔn)試塊。
使用要點(diǎn):
1、利用試塊厚25mm可以測定探傷儀的動態(tài)范圍,水平線性及調(diào)整縱波探測范圍;
2、利用Φ50圓弧和Φ1.5通孔測定斜探頭折射角及縱波直探頭的靈敏度余量。還可粗略估計(jì)直探頭的盲區(qū)大小及測定儀器與探頭組合后的穿透能力;
3、利用R100mm圓弧面測定斜探頭的入射點(diǎn)和盲區(qū),并可校正時(shí)間軸比例和零點(diǎn);
4、利用測距為85mm、91mm和100mm三個(gè)槽口平面可測定直探頭和縱向分辨力;
5、利用試塊的直角棱邊測定斜探頭聲速偏斜角。
IIW2試塊(V-2試塊),是由焊接學(xué)會通過的標(biāo)準(zhǔn)試塊。V-2試塊(DIN54122)與IIW試塊相比,V-2試塊的優(yōu)點(diǎn)是重量輕,便于攜帶,特別適用于現(xiàn)場使用。
使用要點(diǎn):
1、利用半徑為R50mm的圓弧反射面測定斜探頭的入射點(diǎn)和靈敏度余量。
2、利用Φ5通孔的反射面,可以反駁測定斜探頭的折射角范圍為45°~65°和65°~75°;
3、利用厚度12.5mm的底面多次縱波反射,可以測定探傷儀的水平線性和垂直線性。
4、利用R25和R50兩個(gè)圓弧面,校正時(shí)間軸和零點(diǎn)。