一,恒溫老化房,老化房,高溫老化房,大型老化房,大型步入式老化房（部分參數(shù)可按需定制）
產(chǎn)品用途：
該設(shè)備廣泛應(yīng)用于電源電子、計算機、通訊、生物制藥等領(lǐng)域。根據(jù)不同的要求配置主體系統(tǒng)、主電系統(tǒng)、控制系統(tǒng)、加熱系統(tǒng)、溫度控制系統(tǒng)、風(fēng)力恒溫系統(tǒng)、時間控制系統(tǒng)、測試負(fù)載等，通過此測試程序可檢杳出不良品或不良件，是客戶迅速找出問題、解決問題提供有效手段，充分提高客戶生產(chǎn)效率和產(chǎn)品質(zhì)量。

二,恒溫老化房,老化房,高溫老化房,大型老化房,大型步入式老化房
主要技術(shù)參數(shù)：
     溫度范圍：常溫+5℃--45/55/70℃（溫度可以訂制）
 　　有效空間：按需定制，長寬高尺寸由客戶
     溫度波動：±0.5℃　
     溫度偏差：zui大精度±2℃（可根據(jù)客戶要求設(shè)計精度，在一定條件下zui高可以做到±1℃） 　　
     房內(nèi)尺寸：溫度可以訂制 　　
     運行方式：恒定運行或程序運行 　　
     安裝電源：AC~380V；50 Hz 　　
     噪音大小：≦65分貝

三,,老化房,高溫老化房,大型老化房,大型步入式老化房
設(shè)計執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)
1.GB14048.1 低壓開關(guān)設(shè)備和控制設(shè)備   總則
2.GB14048.2 低壓開關(guān)設(shè)備和控制設(shè)備－低壓斷路器  附錄F
3.GB2423.2-89電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗B：高溫試驗方法
4.IEC68-2-2基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗B：干熱
5.GJB150.3-86軍用設(shè)備環(huán)境試驗方法 高溫試驗
6.GB5170 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗基本參數(shù)檢定方法

四,,老化房,高溫老化房,大型老化房,大型步入式老化房
1：易燃、爆炸、易揮發(fā)性物質(zhì)試樣的試驗及儲存
2：腐蝕性物質(zhì)試樣的試驗及儲存
3：生物試樣的試驗或儲存
4：強電磁發(fā)射源試樣的試驗及儲存