南京互川電子有限公司
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詳細(xì)摘要： 型靈敏度試片Z先由日本無損檢測學(xué)會提出，以后為多個國家使用，主要用于零部件的磁粉探傷，在檢查中，對幾何形狀復(fù)雜，不同材質(zhì)的工作，可以正確地選擇磁化規(guī)范，并可檢查...
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2024-02-11 在線留言
詳細(xì)摘要： M1型磁粉檢測試片試片用于連續(xù)法磁粉探傷時，驗證工件表面磁場強(qiáng)度的大小與方向，驗證磁粉探傷的綜合性能。
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詳細(xì)摘要： D型磁粉靈敏度試片系本公司按JB/T4730.4-2005中D型試片的要求制作
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詳細(xì)摘要： B型 直流標(biāo)準(zhǔn)環(huán)型試塊(亦稱12孔試塊)或直流標(biāo)準(zhǔn)環(huán)型試塊，直流標(biāo)準(zhǔn)環(huán)型試塊在美國稱BETZ環(huán)同效，用AISI01克托斯鉻鎢錳工具鋼制成，洛氏硬度HRC=90～...
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詳細(xì)摘要： TD型 磁場指示器(亦稱八角試塊)，是用電爐銅焊將八塊低碳鋼與銅片焊在一起構(gòu)成的，有一個非磁性的手柄，用途與標(biāo)準(zhǔn)試片基本相同，但比試片經(jīng)久耐用，操作簡便。
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詳細(xì)摘要： E型磁粉探傷試塊(3孔試塊)與日本B型試塊接近。交流環(huán)形試塊的鋼環(huán)用含碳量不大于0.15％的軟鋼制成，鋼環(huán)用膠木做襯墊，套在銅棒上，鋼環(huán)上鉆有直徑1mm的3個孔...
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