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▎ 原子力顯微鏡測試(AFM) 適用領域
原子力顯微鏡，可以在大氣和液體環(huán)境下對各種材料和樣品進行納米區(qū)域的物理性質包括形貌進行探測，或者直接進行納米操縱。廣泛應用于半導體、納米功能材料、生物、化工、食品、醫(yī)藥研究和科研院所各種納米相關學科的研究實驗等領域中。
▎ 面向學科
材料、物理、化學
▎ 樣品要求
1. 薄膜樣品：直徑小于12 mm，高度小于3 mm，要求樣品上下表面平整，高低起伏小于1μm，如尺寸超過范圍需收取相應加工費
2. 液體樣品：請配好膠體溶液，保證樣品均勻分散，要求無沉積，溶液澄清透明。樣品如需超聲或稀釋請事先說明，稀釋請?zhí)峁┫鄳娜軇ㄈルx子水除外），并說明稀釋倍數(shù)。液體樣品一般涂到新鮮解離的云母片上，如樣品在云母片上吸附不好，請客戶自行將樣品涂到其他底材上（如硅片）進行測樣；
3. 固體粉末樣品：由于AFM是盲掃，對樣品的分散性要求非常高，因此最好是以液體的形式進行測試。固體粉末樣品一般只適合溶解性或分散性較好的樣品，通常提供不超過30 min的超聲預處理，溶劑由客戶提供（去離子水除外），并由客戶提供詳細的制樣條件
4. 生物樣品：蛋白、細胞及DNA等樣品，請?zhí)峁┰敿毜闹茦舆^程，由于溶液中含有鹽，因此請調好濃度，減少鹽對測試結果的影響
5. 由于樣品分布的不均勻性，請客戶提供樣品的SEM或TEM圖，或者提供參考文獻中AFM的效果圖，以提高結果的準確性
備注：請客戶提供樣品的成分信息，如樣品具有腐蝕性、傳染性等危害，請在寄樣前確認能否測量，并提供相應的防護措施
▎ 測試儀器
儀器名稱 | 原子力顯微鏡 |
儀器型號 | Bruker Dimension Icon |
儀器廠家 | 美國Bruer |
關鍵字 AFM、原子力 | 關鍵字 AFM、原子力 |
▎ 原子力顯微鏡測試(AFM) 測試優(yōu)勢
1) 低漂移和低噪音水平；
2) 配置有專有ScanAsys原子成像優(yōu)化技術，可以簡易快速穩(wěn)定成像；
3) 測試樣品尺寸可達：直徑210mm，厚度15mm；
4) 溫度補償位置傳感器使Z軸和X-Y軸的噪音分別保持在亞-埃級和埃級水平，并呈現(xiàn)高分辨率。；
5) 全新的XYZ閉環(huán)掃描頭在不損失圖像質量的前提下大大提高了掃描速度；
6) 測試樣品尺寸可達：直徑210mm，厚度15mm；
環(huán)保在線