黃生
日本nanogray B射線測厚儀SB-1100
這是使用β射線(β射線)的測厚儀(薄膜測厚儀)。以非接觸方式(β射線)測量片材和板狀物體的厚度和密度(基重)。不是直接測量厚度,而是通過與參考物質(zhì)比較來計(jì)算厚度和密度(基重)。
通常,為了測量片材寬度方向的厚度分布,檢測系統(tǒng)由掃描儀攜帶進(jìn)行測量。激光位移計(jì)一般用作非接觸方式測量厚度的手段,但如果激光位移計(jì)安裝在掃描儀上,在運(yùn)輸過程中只能以遠(yuǎn)低于激光位移計(jì)的精度進(jìn)行運(yùn)輸, 導(dǎo)致結(jié)果. 高精度測量是困難的。
另一方面,在β射線測厚儀等通過透射衰減估算厚度的方法中,測量的是空氣層-樣品-空氣層與滲透之間的衰減,但樣品的衰減遠(yuǎn)大于,傳輸?shù)挠绊懼槐憩F(xiàn)為空氣層厚度的變化,影響很小。因此,可以高精度地進(jìn)行測量。
β射線測厚儀的一般特點(diǎn)
可以在不依賴元素的情況下測量基重。
與傳統(tǒng)的 β 射線測厚儀相比,我們的 β 射線測厚儀的特點(diǎn)
無需設(shè)置資質(zhì)或控制區(qū)域(認(rèn)證設(shè)備帶顯示)
探測器和 β 射線源體積小、重量輕,即使在狹窄的線路中也可以安裝。
用途
塑料薄膜(多層擠塑薄膜等)
電池電極(鋰離子電池(負(fù)極/正極)、鎳氫電池等)
玻璃纖維布
陶瓷片
銅箔、鋁箔、不銹鋼箔
日本nanogray B射線測厚儀SB-1100
β射線測厚儀SB-1100技術(shù)參數(shù) | |
物品 | 規(guī)格 |
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姓名 | Beta射線測厚儀SB-1100 |
測量方法 | β射線透射法 |
認(rèn)證號(hào)碼 | Set 114(帶顯示器的認(rèn)證設(shè)備) |
檢測方法 | 閃爍探測器法 |
測量間距 | 標(biāo)準(zhǔn)2mm(也可提供更細(xì)間距) |
掃描寬度 | 標(biāo)準(zhǔn)150-3000mm(也可提供其他寬度) |
掃描速度 | 15-200 毫米/秒(標(biāo)準(zhǔn)) |
框架結(jié)構(gòu) | O型及其他各種車架 |
測量范圍 | 0-200g/m 2 |
光斑尺寸 | 約φ8.0mm(標(biāo)準(zhǔn))(工作中) |
貝塔射線源 | 80 x 110 毫米 x 235 毫米(標(biāo)準(zhǔn)) |
檢測單元 | 80 x 110 毫米 x 235 毫米(標(biāo)準(zhǔn)) |
電源 | 100V單相1kVA |