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更新時(shí)間：2022-12-30 17:08:03瀏覽次數(shù)：485次
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X射線工業(yè)CT無(wú)損檢測(cè)系統(tǒng)X射線工業(yè)CT無(wú)損檢測(cè)系統(tǒng)屬于X射線無(wú)損檢測(cè)領(lǐng)域產(chǎn)品
X射線工業(yè)CT無(wú)損檢測(cè)系統(tǒng)
X射線工業(yè)CT無(wú)損檢測(cè)系統(tǒng)
屬于X射線無(wú)損檢測(cè)領(lǐng)域產(chǎn)品。是一個(gè)綜合各個(gè)學(xué)科的綜合性檢測(cè)系統(tǒng)。可以通過工業(yè)CT檢測(cè)實(shí)現(xiàn)工件的斷層掃描和三維可視化效果。系統(tǒng)根據(jù)不同的電壓等級(jí)來區(qū)分，包括225kv，320kv，450kv，600kv。數(shù)字采集方面數(shù)字平板探測(cè)器或線陣探測(cè)器成像。機(jī)械平臺(tái)的結(jié)構(gòu)通常為多軸控制系統(tǒng)，具體形式依據(jù)用戶要求設(shè)計(jì)。
工業(yè)CT特點(diǎn)
工業(yè)CT檢測(cè)系統(tǒng)通過圖像反映工件內(nèi)部裝配正確性和缺陷，并以數(shù)據(jù)形式反映出缺陷的位置、大小，甚至產(chǎn)品尺寸的參數(shù)等。
在工業(yè)生產(chǎn)檢測(cè)過程中，主要體現(xiàn)在以下幾個(gè)方面：
裝配正確性：通過X射線透照重建出三維效果，可以檢測(cè)產(chǎn)品的內(nèi)部結(jié)構(gòu)，如裝配是否正確，有沒有缺件等。
缺陷檢測(cè)：對(duì)于焊接件可以通過X射線的DR成像檢測(cè)漏焊、焊渣、堆焊、虛焊（非零接觸）等。對(duì)于鑄造件可以檢測(cè)氣孔、縮孔、疏松、裂紋、夾雜等缺陷。通過三維成像將檢測(cè)到的缺陷顯示出來，可計(jì)算缺陷的面積，深度，大小，所占比例等。
三維反演：工業(yè)CT檢測(cè)可以不必對(duì)被檢物分拆，就可以窺其結(jié)構(gòu)，因此在技術(shù)研發(fā)中，對(duì)樣件建立CT斷層圖像，甚至三維圖像，可以形象的分析樣件的構(gòu)成和裝配關(guān)系，并導(dǎo)入設(shè)計(jì)圖紙與實(shí)物進(jìn)行比較， 為生產(chǎn)制造提供有利的參考數(shù)據(jù)。
優(yōu)勢(shì)：通過透照及計(jì)算機(jī)算法而呈現(xiàn)出工件的三維可視化效果，使得檢測(cè)更加直觀，全面。
應(yīng)用領(lǐng)域
可用于產(chǎn)品的研發(fā)、生產(chǎn)、裝配分析、逆向工程等。目前已廣泛應(yīng)用于航天、航空、軍事、兵器、鐵路、船舶、電子、機(jī)械、石油、地質(zhì)、考古等諸多領(lǐng)域。典型應(yīng)用如：材料分析、失效形式分析、幾何與形位公差測(cè)量、裝配分析與逆向工程等
掃描方式 | 線陣探測(cè)器扇束二代、扇束三代CT掃描、線陣DR掃描 面陣錐束掃描、面陣DR掃描 |
空間分辨率 | 線陣探測(cè)器5.0 LP/MM 面陣探測(cè)器3.0LP/MM |
密度分辨率 | 線陣探測(cè)器0.5% 面陣探測(cè)器1.5% |
缺陷檢測(cè)能力 | 氣孔識(shí)別能力＜0.8mm（直徑） 裂紋識(shí)別能力≤0.1mm（寬度） 夾雜識(shí)別能力＜0.5mm（直徑） |
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