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X射線熒光鍍層厚度測量儀

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產(chǎn)品型號X-Strata920-PC, X-Strata920-SDD

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更新時(shí)間：2023-03-17 12:56:03瀏覽次數(shù)：172次

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科邁斯科技股份有限公司

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產(chǎn)品簡介

基于X熒光的涂層厚度和材料分析是業(yè)內(nèi)廣泛接受認(rèn)可的分析方法，提供易于使用、快速和無損的分析，幾乎不需要樣本制備，能夠分析元素周期表上從13Al到92U的固體或液體樣品

詳細(xì)介紹

基于X熒光的涂層厚度和材料分析是業(yè)內(nèi)廣泛接受認(rèn)可的分析方法，提供易于使用、快速和無損的分析，幾乎不需要樣本制備，能夠分析元素周期表上從¹³Al 到⁹²U 的固體或液體樣品。 X-Strata 920提供多種配置，可分析單層和多層鍍層（包括合金層）。四種樣品臺配置，分別是標(biāo)準(zhǔn)臺、井深式、加寬式、程控式，可依照需求分析任何形狀的部件樣品。

開槽式樣品倉設(shè)計(jì)，可以測量大型平板樣品，如尺寸大于儀器寬度的印制線路板或小型的連接器，接插件樣品。所有樣品可以很方便地放置并定位到待測點(diǎn)
樣品尺寸：270 x 500 x 150mm
最小的準(zhǔn)直器：0.01mm x 0.25mm(0.5 x10 mil)
可根據(jù)需求選擇檢測器-正比計(jì)數(shù)器(Ti鈦~-U鈾)或高分辨率 (Al鋁 -U鈾)SDD
可以分析金屬膜厚及成分, 從原子序號22~至92的典型元素的電鍍層、化學(xué)鍍層
多層多元素校正符合IPC 4556, IPC 4552A
Z 軸自動(dòng)控制, Z 軸自動(dòng)對焦系統(tǒng)
鈷二次濾光片，用于準(zhǔn)確校正銅鎳之間的相互干擾，合適鎳層的精確測量
數(shù)量準(zhǔn)直器：6個(gè)
金屬薄膜厚度0.03微米(30nm)到 30 um微米，根據(jù)不同鍍層元素和鍍層結(jié)構(gòu)不同而不同
Hitachi SmartLink FP 基本參數(shù)法

項(xiàng)目	描述
測量方向 (X射線照射方向)	從上往下，即使樣品表面有一定的幅度或不平整等情況也可輕易對焦
外形尺寸	寬 x 深 x 高 [mm]：約 407 x 770 x 400 mm
樣品臺設(shè)計(jì)	開槽式樣品倉，可以測量大型平板樣品，如尺寸大於儀器寬度的印製線路板或小型的連接器，接外掛程式樣品。所有樣品可以很方便地放置並定位到待測點(diǎn)。 Z 軸自動(dòng)控制（Z 向行程：43mm）樣品倉內(nèi)部尺寸：236 x 430 x 160mm (寬 x 深 x 高)
X射線源	W 靶射線管
高壓發(fā)生器	50 kV, 1.0 mA (50 W) 高壓發(fā)生器，高壓多檔可調(diào)
二次濾光片	鈷二次濾光片，用於準(zhǔn)確校正銅鎳之間的相互干擾，合適鎳層的精確測量。
X射線接收器檢(探測器)	正比計(jì)數(shù)器(Ti鈦~-U鈾)或高解析度 (Al鋁 -U鈾) SDD
元素範(fàn)圍	鈦-鈾，或鋁-鈾（SDD）
視頻系統(tǒng)	彩色 CCD，30 倍光學(xué)放大， 200%、300%和 400%數(shù)位放大。樣品分析區(qū)域在使用者介面顯示，清晰、易用。
Z 軸自動(dòng)對焦系統(tǒng)	鐳射用於 Z 軸自動(dòng)精確定位X 射線光管/檢測器與被測樣品到測試距離。「一鍵操作」將Z 軸測試頭移動(dòng)到位置，同時(shí)將樣品圖像定焦（顯示在螢?zāi)簧希?br> 自動(dòng)而簡單的操作提高儀器測試的再現(xiàn)性，並將人為測量誤差降到。注：測試距離為 12.7mm，由 X 射線測試頭自動(dòng)調(diào)節(jié)高度（Z 軸）。
可測量的鍍層元素範(fàn)圍	元素週期表中 22 號鈦元素到 92 號鈾元素
可測量的鍍層層數(shù)	最多可同時(shí)測量 4 層（不含基材）
可測鍍層厚度範(fàn)圍	通常約 0.03 微米到 30 微米，根據(jù)不同鍍層元素和鍍層結(jié)構(gòu)不同而不同。