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詳細(xì)摘要： 特點(diǎn)規(guī)格量測(cè)厚度,反射率,吸收率,表面結(jié)構(gòu)量測(cè)波長(zhǎng)632
產(chǎn)品型號(hào)：Semilab SE-2000所在地：更新時(shí)間：2025-02-11 在線留言
詳細(xì)摘要： FT230的每一個(gè)部分都是為了準(zhǔn)確測(cè)試，并大幅減少分析時(shí)間而設(shè)計(jì)的
產(chǎn)品型號(hào)：FT230所在地：更新時(shí)間：2023-03-17 在線留言
詳細(xì)摘要： 基于X熒光的涂層厚度和材料分析是業(yè)內(nèi)廣泛接受認(rèn)可的分析方法，提供易于使用、快速和無(wú)損的分析，幾乎不需要樣本制備，能夠分析元素周期表上從13Al到92U的固體或液...
產(chǎn)品型號(hào)：X-Strata920-PC, X-Strata920-SDD所在地：更新時(shí)間：2023-03-17 在線留言您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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