廈門同昌源電子有限公司
詳細(xì)摘要： D8 ADVANCE X射線行射儀，采用創(chuàng)造性的達(dá)芬奇設(shè)計，通過TWIN-TWIN光路設(shè)計，成功實現(xiàn)了BB聚焦幾何下的定性定量分析和平行光幾何下的薄膜掠入射GI...
產(chǎn)品型號：所在地：廈門市更新時間：2023-08-31 在線留言
詳細(xì)摘要： 用途:測量納米尺度的硬度與模量，可以用于研究或測試薄膜等納米材料的接觸剛度、蠕變、彈性功、塑性功、斷裂韌性。應(yīng)力-應(yīng)變曲線、疲勞、存儲模量及損耗模量等特性。
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2023-01-02 在線留言您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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