蔡司 METROTOM工業(yè)CT斷層掃描測量機

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更新時間：2023-03-05 15:20:08瀏覽次數(shù)：288次

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東莞市同創(chuàng)儀器有限公司

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產(chǎn)品簡介

融合了計量學和斷層X射線攝影，測量技術的新革命！

詳細介紹

蔡司 METROTOM斷層掃描測量機——測量技術的新革命

蔡司 Metrotomo融合了計量學和斷層X射線攝影法,開創(chuàng)了不可預期的可能性。在此之前只能檢測或根本不能進行質(zhì)量保證的場合,現(xiàn)在可以進行高精度和無損測量。

斷層掃描分析如同在工件內(nèi)部測量:所有采集的數(shù)據(jù)可用于質(zhì)量保證的范圍和進行評估。無損檢測技術,例如：裝配檢查、損傷和氣孔分析、材料檢驗或損壞檢查,如同測量評估、逆向工程應用或幾何比較一樣。

在此之前或許不能檢測，或只能通過耗費時間和成本的接口進行檢測的場合，現(xiàn)在斷層掃描分析可以快速明確地檢測誤差。

重要特征

深思熟慮的設計

● 三維計算機斷層掃描分析帶有微聚焦X射線管和探測器

● 用于裝夾工件的轉(zhuǎn)臺和蔡司的運動單元

安全技術

● 全防護測量間

● 滿足了根據(jù)DN54113標準的用于結構類型許可全封閉儀器的防護射線條例

● 根據(jù)人機工程學優(yōu)化的設計(專用上料位置)

機器技術

來自卡爾蔡司的精密運動系統(tǒng)；

● 自加工的精密機械組件 ● 導軌誤差補償(CAA計算機輔助誤差修正技術)

氣浮軸承轉(zhuǎn)臺：

● 蔡司原裝轉(zhuǎn)臺,配有直接驅(qū)動 ● 自產(chǎn)氣浮軸承

● 載荷(中心):500N ● 軸向誤差fa=0.1μm,徑向誤差fa=0.2μm

使用斷層成像技術優(yōu)化產(chǎn)品內(nèi)部工藝

● 裝配檢查 ● 模具修復——幾何量對比 ● 材料分析

● 幾何量測量 ● 無損瑕疵檢測 ● 逆向工程

● 孔隙率分析 ● 損害分析

針對設備的驗收測試階段,卡爾蔡司使用基于VDI/VDE 2630開發(fā)的標準器具,同時可提供測量不確定性的相應對比測試及測量機的測量系統(tǒng)分析。