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氮化鎵（GaN），作為一種具有物理和化學性質的半導體材料，憑借功率轉換效率、超快的開關速度以及出色的耐高溫性能，在5G通信、新能源汽車、數據中心及消費電子等前沿領域扮演著重要角色。然而，GaN的可靠性評估及全面性能測試仍面臨挑戰(zhàn)，尤其是高耐性、優(yōu)異熱阻及極低界面電容等性能測試技術在國內尚待成熟。基于此，廣電計量集成電路測試與分析研究所推出了GaN功率器件開關耐高壓性能的可靠性評估及測試方法，實現對氮化鎵功率器件的可靠性測試，不僅涵蓋了AEC標準鑒定能力，同時具備對GaN 器件內在故障機制觸發(fā)方法的驗證能力。
攻克多樣技術難題，鑄就技術品質

針對氮化鎵功率器件動態(tài)性能測試所面臨的挑戰(zhàn)，深入探究氮化鎵開關性能測試技術，對測試布局予以優(yōu)化，規(guī)避測試過程中長環(huán)路的引入，從高低側電壓測量以及電流傳感器選取等方面著力，成功攻克測試的難點，同時克服了氮化鎵器件容易發(fā)生的電流崩塌問題，填補可靠性評估及測試能力空缺，為企業(yè)及行業(yè)提前預判器件的潛在失效問題。

 

 

 

 

 

服務優(yōu)勢

 

擴展服務范圍：填補研究的空缺，剖析GaN潛在失效機制。

 

提高監(jiān)測效率：實現動態(tài)性能的在線監(jiān)測，異常電壓電流可觸發(fā)報警并暫停測試。

 

提前故障干預：避免引入寄生參數，在早期及時干預，降低產品的失效率。

 

提升產品質量：設置完整的可靠性系統(tǒng)，把控GaN產品質量。

解鎖GaN器件故障機制，驅動行業(yè)升級

        針對 GaN 仍存在一系列 Si 器件的可靠性評估及測試無法覆蓋的難題，廣電計量建立的氮化鎵可靠性評估及測試方法不僅涵蓋了標準鑒定能力，更重要具備對 GaN 器件內在故障機制觸發(fā)方法的驗證能力。通過深入研究GaN的可靠性問題并采取相應的措施來提高其可靠性水平，可以推動相關技術的創(chuàng)新和發(fā)展、確保產品質量與安全性、促進市場應用與拓展、降低維護成本與風險以及推動行業(yè)標準化與規(guī)范化發(fā)展。

集成電路測試與分析研究所

        廣電計量集成電路測試與分析研究所擁有各類高精尖分析儀器和專業(yè)技術團隊，以技術帶入市場，長期致力于元器件篩選及失效分析技術領域的科研和咨詢服務，構建了包括元器件國產化驗證與競品分析、集成電路測試與工藝評價、半導體功率器件質量提升工程、車規(guī)級芯片與元器件AEC-Q認證、車規(guī)功率模塊AQG 324認證等多個技術服務平臺，滿足裝備制造、航空航天、汽車、軌道交通、5G通信、光電器件與傳感器等領域的電子產品質量與可靠性的需求，能為客戶提供專業(yè)化咨詢、分析及培訓等“一站式”服務，全面提升產品品質。