李女士
目錄:廣電計(jì)量檢測(cè)集團(tuán)股份有限公司>>環(huán)境可靠性>>特色檢測(cè)>> 飽和濕度試驗(yàn) 環(huán)境檢測(cè)機(jī)構(gòu)
參考價(jià) | 面議 |
參考價(jià) | 面議 |
更新時(shí)間:2024-11-07 07:49:43瀏覽次數(shù):550評(píng)價(jià)
聯(lián)系我們時(shí)請(qǐng)說(shuō)明是環(huán)保在線上看到的信息,謝謝!
李女士
服務(wù)區(qū)域 | 全國(guó) | 服務(wù)周期 | 常規(guī)3-5個(gè)工作日 |
---|---|---|---|
服務(wù)類(lèi)型 | 可靠性環(huán)境試驗(yàn) | 服務(wù)資質(zhì) | CMA/CNAS認(rèn)可,主機(jī)廠認(rèn)可 |
證書(shū)報(bào)告 | 中英文電子/紙質(zhì)報(bào)告 | 增值服務(wù) | 可加急檢測(cè) |
是否可定制 | 是 | 是否有發(fā)票 | 是 |
協(xié)助客戶制定測(cè)試方案,開(kāi)展測(cè)試,出具測(cè)試報(bào)告。
飽和濕度試驗(yàn) 環(huán)境檢測(cè)機(jī)構(gòu)適用于國(guó)防、航天、汽車(chē)部件、電子零配件、塑膠、磁鐵行業(yè)、制藥線路板,多層線路板、IC、LCD、磁鐵、燈飾、照明制品等產(chǎn)品。多在產(chǎn)品的設(shè)計(jì)階段開(kāi)展,用于快速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié)。
JESD22-A118B | 加速濕度抵抗-非偏置高加速應(yīng)力試驗(yàn) |
JESD22-A110 | 高加速溫度和濕度應(yīng)力試驗(yàn) |
AEC-Q101-Rev-E March1 | 車(chē)用分立半導(dǎo)體元器件的基于失效機(jī)理的應(yīng)力測(cè)試驗(yàn)證 |
AEC-Q100-Rev-H | 集成電路的基于失效機(jī)理的應(yīng)力測(cè)試驗(yàn)證 |
半導(dǎo)體分立器件、集成電路、微電子器件、IC等的高加速應(yīng)力測(cè)試、高壓蒸煮、無(wú)偏置HAST、無(wú)偏置溫濕度試驗(yàn)、溫濕度偏置等項(xiàng)目。
CNAS
根據(jù)需求確定。
為什么要做此測(cè)試? HAST高加速老化測(cè)試是主要用于評(píng)估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或者材料的可靠性,是通過(guò)在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和創(chuàng)建溫度、濕度、壓力的各種條件來(lái)完成的。
相對(duì)于傳統(tǒng)的高溫高濕測(cè)試,HAST增加了壓力控制,可以實(shí)現(xiàn)超過(guò)100℃條件下的溫濕度控制,能夠加速溫濕度的老化效果(如遷移,腐蝕,絕緣劣化,材料老化等),大大縮短可靠性評(píng)估的測(cè)試周期。尤其在PCB、半導(dǎo)體、太陽(yáng)能、顯示面板等產(chǎn)品測(cè)試中,HAST高加速老化被作為標(biāo)準(zhǔn)高溫高濕測(cè)試的快速有效替代方案。
1、廣電計(jì)量是國(guó)內(nèi)專(zhuān)業(yè)的第三方檢驗(yàn)機(jī)構(gòu),可提供一站式技術(shù)服務(wù);
2、廣電計(jì)量環(huán)境與可靠性事業(yè)部在全國(guó)建立了18個(gè)實(shí)驗(yàn)室,擁有專(zhuān)業(yè)的多學(xué)科專(zhuān)家團(tuán)隊(duì)和先進(jìn)的檢測(cè)設(shè)備;
3、廣電計(jì)量環(huán)境與可靠性實(shí)驗(yàn)室具備CMA、CNAS等資質(zhì),實(shí)行全國(guó)一體化管控模式,積極參加各類(lèi)能力驗(yàn)證項(xiàng)目,確保檢測(cè)結(jié)果公正準(zhǔn)確、可追溯;
4、廣電計(jì)量在加速老化試驗(yàn)方面有數(shù)十年積累,具有業(yè)內(nèi)水平的試驗(yàn)設(shè)備和專(zhuān)業(yè)人才團(tuán)隊(duì)。
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)