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顯微熔點(diǎn)儀 X-4

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更新時(shí)間：2023-07-07 21:23:34瀏覽次數(shù)：182次

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產(chǎn)品簡介

顯微熔點(diǎn)儀X-4一、儀器用途：物質(zhì)的熔點(diǎn)是指該物質(zhì)由固態(tài)變?yōu)橐簯B(tài)時(shí)的溫度

詳細(xì)介紹

顯微熔點(diǎn)儀 X-4

一、儀器用途：

物質(zhì)的熔點(diǎn)是指該物質(zhì)由固態(tài)變?yōu)橐簯B(tài)時(shí)的溫度。在有機(jī)化學(xué)領(lǐng)域中，熔點(diǎn)測定是辨認(rèn)該物質(zhì)本性的基本手段，也是純度測定的重要方法之一。目視顯微熔點(diǎn)測定儀是研究、觀察物質(zhì)在加熱狀態(tài)下的形變、色變及物質(zhì)三態(tài)轉(zhuǎn)化等物理變化過程的有力檢測手段。

本儀器可用載波片方法測定物質(zhì)的熔點(diǎn)、形變、色變等；也可用藥典規(guī)定的毛細(xì)管方法測其熔點(diǎn)，尤其對深色樣品，如醫(yī)藥中間體、顏料、橡膠促進(jìn)劑等的熔點(diǎn)，并能自始自終觀察到其熔化的全過程

二、儀器技術(shù)參:

1、顯微鏡采用4倍物鏡，10倍目鏡

2、測量范圍：室溫∽320℃

3、測量精密度：室溫∽200℃的誤差±1℃
　　　　　　　　 200℃∽320℃的誤差±2℃

4、電源220V 50HZ 功率 80W >200℃： ±2℃

　　光學(xué)放大倍數(shù)：目鏡10X，物鏡4X

三、儀器特點(diǎn):

1. 本儀器使用毛細(xì)管法進(jìn)行測量。申請?zhí)枺?9

2. 根據(jù)特殊要求，本儀器也可用載波片——載波片法進(jìn)行測量。

3. 本儀器采用LED數(shù)字顯示熔點(diǎn)溫度值。

4. 本儀器采用熱臺控制系統(tǒng)和顯微鏡組合成一體的結(jié)構(gòu)，簡單可靠，使用方便。

5. 升溫速率連續(xù)可調(diào)。我們建議你采用1℃/分的升溫速率測量熔點(diǎn)的溫度值，在次使用時(shí)記錄下1℃/分的
　　　升溫速率時(shí)的波段開關(guān)和電位器的編號，則以后用此位置就能得到你的所要求的升溫速率。并請注意（1）
　　　室溫的影響；在同樣波段開關(guān)和電位器的編號下，室溫越低，升溫速率越慢。（2）電子元件的影響：電子
　　　元件的老化,升溫速率一定時(shí),其電位器的編號會(huì)有所變化,只要進(jìn)行微調(diào)即可。編號越大,升溫速率越快。

關(guān)鍵詞：顯微熔點(diǎn)儀顯微鏡電位器

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